2002年毕业于吉林大学电子工程系获学士学位，2008年毕业于香港科技大学电机及电子工程系获哲学博士学位，2008-2012年于香港科技大学电机及电子工程系从事博士后研究工作，2012年底加入苏州大学电子信息学院，从事半导体器件方向的教学和科研工作。目前主持国家自然科学基金项目面上项目2项，已完成国家自然科学基金项目、江苏省自然科学基金项目以及苏州市重点产业技术创新前瞻性应用研究项目各一项，发表论文40余篇。
1、新型半导体器件的设计与制造
2、半导体器件的可靠性表征与建模
1.Yilin Yang, Dongli Zhang, Mingxiang Wang, Lei Lu, and Man Wong, “Suppressed Degradation of Elevated-Metal Metal-Oxide Thin-Film Transistors under Bipolar Gate Pulse Stress,” IEEE Electron Device Letters, vol. 39(5), pp. 707-710, May 2018.
2.Dongli Zhang, Mingxiang Wang, Man Wong, and Hoi-Sing Kwok, “Crystallization of Amorphous Silicon beyond the Crystallized Polycrystalline Silicon Region Induced by Metal Nickel,” Chinese Physics B, vol.26(1), pp.016601, Jan. 2017.
3.Dongli Zhang, Mingxiang Wang, Huaisheng Wang, and Qi Shan, “Investigations on the Gate-Induced Drain Leakage Current of Polycrystalline-Silicon Thin-Film Transistor and its Suppression with Drain Bias Sweep,” IEEE Transactions on Electron Devices, vol.63(4), pp.1572-1577, Mar. 2016.
4.Dongli Zhang, Mingxiang Wang and Kai Sun, “Low Frequency Noise Characterization and Signal-to-Noise Ratio Optimization for Silicon Hall Cross Sensors,” IEEE Journal of Electron Devices Society, vol.3(4), pp.365-370, July 2015.
5.Dongli Zhang, Mingxiang Wang and Xiaowei Lu, “Two-Stage Degradation of P-Type Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors under Dynamic Positive Bias Temperature Stress,” IEEE Transactions on Electron Devices, vol.61(11), pp.3751-3756, Nov. 2014.
欢迎对半导体器件感兴趣的集成方向本科生和研究生了解与咨询。
2002年毕业于吉林大学电子工程系获学士学位，2008年毕业于香港科技大学电机及电子工程系获哲学博士学位，2008-2012年于香港科技大学电机及电子工程系从事博士后研究工作，2012年底加入苏州大学电子信息学院，从事半导体器件方向的教学和科研工作。目前主持国家自然科学基金项目面上项目2项，已完成国家自然科学基金项目、江苏省自然科学基金项目以及苏州市重点产业技术创新前瞻性应用研究项目各一项，发表论文40余篇。
1、新型半导体器件的设计与制造
2、半导体器件的可靠性表征与建模
1.Yilin Yang, Dongli Zhang, Mingxiang Wang, Lei Lu, and Man Wong, “Suppressed Degradation of Elevated-Metal Metal-Oxide Thin-Film Transistors under Bipolar Gate Pulse Stress,” IEEE Electron Device Letters, vol. 39(5), pp. 707-710, May 2018.
2.Dongli Zhang, Mingxiang Wang, Man Wong, and Hoi-Sing Kwok, “Crystallization of Amorphous Silicon beyond the Crystallized Polycrystalline Silicon Region Induced by Metal Nickel,” Chinese Physics B, vol.26(1), pp.016601, Jan. 2017.
3.Dongli Zhang, Mingxiang Wang, Huaisheng Wang, and Qi Shan, “Investigations on the Gate-Induced Drain Leakage Current of Polycrystalline-Silicon Thin-Film Transistor and its Suppression with Drain Bias Sweep,” IEEE Transactions on Electron Devices, vol.63(4), pp.1572-1577, Mar. 2016.
4.Dongli Zhang, Mingxiang Wang and Kai Sun, “Low Frequency Noise Characterization and Signal-to-Noise Ratio Optimization for Silicon Hall Cross Sensors,” IEEE Journal of Electron Devices Society, vol.3(4), pp.365-370, July 2015.
5.Dongli Zhang, Mingxiang Wang and Xiaowei Lu, “Two-Stage Degradation of P-Type Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors under Dynamic Positive Bias Temperature Stress,” IEEE Transactions on Electron Devices, vol.61(11), pp.3751-3756, Nov. 2014.
欢迎对半导体器件感兴趣的集成方向本科生和研究生了解与咨询。